Представлены результаты экспериментального изучения разряда низкоиндуктивной вакуумной искры, проведенного с применением диагностических методик, основанных на использовании микроканальных пластин. Изображения плазмы разряда, полученные с помощью камеры-обскуры, а также спектры плазмы были зарегистрированы с наносекундным кадровым временным разрешением. Обнаружено, что в случае Al анода разрядная плазма подвержена филаментации с последующим пинчеванием. В случае разряда с Мо анодом возникает стратификация разрядной плазмы в виде системы слоев, ориентированных преимущественно перпендикулярно оси разряда. Такая разница в структуре разрядной плазмы может быть связана с процессом эрозии анода в фазе роста разрядного тока. Изученные спектры разрядной плазмы на стадии пинчевания показали присутствие ионов Al вплоть до Al VIII (потенциал ионизации 284.6 эВ) и ионов Mo вплоть до Mo XVII (потенциал ионизации 646 эВ).
展开▼
