ダイナミック粒子画像解析システムiSpect DIA-10

摘要

品質管理の高度化に伴い，従来測定されていた粒子径分布や粒子の個数濃度のみならず，製品性能の向上，製品不良の原因究明などを目的として，粒子形状の測定や微量に含まれる異物の検出に対するニーズが高まっている。しかし，現在広く使用されているレーザ回折·散乱法の粒子径分布測定装置では粒子形状の測定や微量異物の検出は難しい。本稿では粒子形状の測定や微量異物の検出が可能な動的画像解析装置（DIA法）を使用したダイナミック粒子画像解析システムiSpect DIA-10を紹介する。