Digital hardware testing: Transistor‐level fault modeling and testing, Rochit Rajsuman, Artech House, Inc, 1992, Price $78.00, Number of pages; 311

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• 来源
  《quality and reliability engineering international》 |1993年第4期|398-398|共页
• 作者

  A. M. D. Richardson;

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• 作者单位

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• 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
• 原文格式 PDF
• 正文语种 英语
• 中图分类
• 关键词