ПРОБЛЕМИ РОЗВИТКУ МЕТОДУ РЕНТГЕН?ВСЬКО? ФОТОЕЛЕКТРОННО? СПЕКТРОСКОП?? В УКРА?Н?

摘要

Статтю присвячено проблемам розвитку методу рентген?всько? фотоелектронно? спектроскоп?? (РΦС/XPS) в Укра?н?. Метод РФС ? сучасним методом досл?дження електронно? структури атом?в. Метод використовують на вс?х етапах синтезу та досл?дження матер?ал?в, функц?ональн? властивост? яких визначаються станом поверхн?, зарядовими станами атом?в, типом функц?ональних груп або процесами деградац?? матер?ал?в. Об'?ктами досл?дження ? катал?затори, покриття, х?м?чн? сенсори, сорбенти, координац?йн? та металоорган?чн? сполуки (х?м?я, матер?алознавство, фармацевтика), стан та склад поверхн? (м?кроелектрон?ка), тонк? пл?вки (оптика), сплави (ав?ац?йна ? косм?чна промислов?сть), нанопорошки, нанопл?вки (нанотехнолог??). Метод ? актуальним для реал?зац?? ц?леспрямованого синтезу матер?ал?в. У св?т? метод XPS ? широко поширеним, його ?нтегровано в ?нновац?йн? сектори науки ? техн?ки, а XPS-приладобудування ? високотехнолог?чний б?знесом. В Укра?н? метод практично не представлено, конкуренц?я в галуз? приладобудування в?дсутня. У статт? запропоновано створення на баз? НАН Укра?ни парку ун?тарних, як?сних ? доступних за ц?ною в?тчизн?