Дослiджено вплив пероксиду водню на фазовий склад, товщину та поруватiсть окси-докерамiчних покриттiв, отриманих методом плазмоелектролiтного оксидування на алюмiнiевих сплавах Al-Si-Cu ТА Al-Cu-Mg. Встановлено, що H_2O_2 за концентрацii 5 §/1 збiльшуе товщину оксидокерамiчного покриття у два рази порiвняно з вихiдним електролiтом для цих двох систем. Подальше збiльшення концентрацii пероксиду водню призводить до зменшення товщини оксидокерамiчних покриттiв. Максимальний вмiст корунду отримано за концентрацii пероксиду водню 5 g/l для системи Al-Cu-Mg та 7g/l для системи Al-Si-Cu. Наявнiсть у сплавi кремнiю призводить до формування в оксидокерамiчних покриттях силiманiту та кварцу, що супроводжуеться зростанням iх об'ему. Зi збiльшенням концентрацii пероксиду водню в електролiтi зменшуеться поруватiсть системи Al-Si-Cu i не змiнюеться в системi Al-Cu-Mg.
展开▼