首页> 外文期刊>Фiзико-хiмiчна механiка матерiалiв >ВПЛИВ ПЕРОКСИДУ ВОДНЮ НА СКЛАД ТА ПОРУВАТIСТЬ ОКСИДОКЕРАМIЧНИХ ПОКРИТТIВ НА СПЛАВАХ СИСТЕМ Al-Si-Cu ТА Al-Cu-Mg
【24h】

ВПЛИВ ПЕРОКСИДУ ВОДНЮ НА СКЛАД ТА ПОРУВАТIСТЬ ОКСИДОКЕРАМIЧНИХ ПОКРИТТIВ НА СПЛАВАХ СИСТЕМ Al-Si-Cu ТА Al-Cu-Mg

机译:将过氧化水注入仓库并减少Al-Si-Cu TA Al-Cu-Mg系统合金上的氧化物陶瓷涂层

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
获取外文期刊封面目录资料

摘要

Дослiджено вплив пероксиду водню на фазовий склад, товщину та поруватiсть окси-докерамiчних покриттiв, отриманих методом плазмоелектролiтного оксидування на алюмiнiевих сплавах Al-Si-Cu ТА Al-Cu-Mg. Встановлено, що H_2O_2 за концентрацii 5 §/1 збiльшуе товщину оксидокерамiчного покриття у два рази порiвняно з вихiдним електролiтом для цих двох систем. Подальше збiльшення концентрацii пероксиду водню призводить до зменшення товщини оксидокерамiчних покриттiв. Максимальний вмiст корунду отримано за концентрацii пероксиду водню 5 g/l для системи Al-Cu-Mg та 7g/l для системи Al-Si-Cu. Наявнiсть у сплавi кремнiю призводить до формування в оксидокерамiчних покриттях силiманiту та кварцу, що супроводжуеться зростанням iх об'ему. Зi збiльшенням концентрацii пероксиду водню в електролiтi зменшуеться поруватiсть системи Al-Si-Cu i не змiнюеться в системi Al-Cu-Mg.
机译:研究了过氧化氢对铝合金Al-Si-Cu和Al-Cu-Mg等离子体电解质氧化得到的氧陶瓷涂层的物相组成、厚度和孔隙率的影响。结果发现,H_2O_2浓度为5§/1时,氧化物-陶瓷涂层的厚度是这两种体系输出电解质厚度的两倍。过氧化氢浓度的进一步增加导致氧化物陶瓷涂层厚度的减小。当Al-Cu-Mg体系的过氧化氢浓度为5 g/l,Al-Si-Cu体系的过氧化氢浓度为7 g/l时,刚玉含量最高。合金中硅的存在导致氧化陶瓷涂层中硅线石和石英的形成,并伴随着其体积的增加。随着电解液中过氧化氢浓度的增加,Al-Si-Cu体系的孔隙率降低,在Al-Cu-Mg体系中没有变化。

著录项

获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号