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机译:ベイズ的グループテストのカットオフ値評価とROC解析
坂田 綾香; 樺島 祥介;
統計数理研究所:〒190-8562 東京都立川市緑町10-3, 総合研究大学院大学 複合科学研究科統計科学専攻:〒190-8562 東京都立川巿緑町10-3;
東京大学大学院 理学系研究科知の物理学研究センター:〒113-0033 東京都文京区本郷7-3-1;
グループテスト; カットオフ値; ROC曲線; ベイズリスク;
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