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机译:面外光散射的角度依赖性和偏振性,原因在于微粒污染,表面下缺陷和表面微粗糙度
bidirectional reflectance distribution function; polarimetry; particulate contamination; subsurface defects; microroughness; LIGHT-SCATTERING; MUELLER MATRIX; SPHERES; SUBSTRATE; RAYLEIGH;
机译:面外光散射的角度依赖性和偏振性,原因在于微粒污染,表面下缺陷和表面微粗糙度
机译:由微粗糙表面和亚表面缺陷散射的光的偏振
机译:来自微粗糙硅的面外散射的极化
机译:光刻产生的微粗糙硅上生长的SiO2膜的面外光散射的偏振
机译:通过热波成像和光子密度波的逆散射来测量表面缺陷深度和金属损失。
机译:银纳米棒阵列的各向异性光学响应:表面增强的拉曼散射偏振和椭偏参数面临的角度依赖性。
机译:对双轴晶体诱导二阶非线性光学偏振和相位匹配的角度依赖性的广义研究“J。苹果。 Phys.46,3992(1975)
机译:基于激光的光学散射检测机加工si(sub 3)N(sub 4)组件中的表面和表面下缺陷