Особенности структурных и магнитных характеристик низкоразмерных систем на основе кобальта и меди

摘要

Представлены результаты исследования структурных и магнитных характеристик низкоразмерных Со／Си／Со-тонкопленочных систем， полученных магнетронным распылением на стеклянные подложки．Толщина слоев кобальта во всех образцах была равна 5 нм， а толщина медного слоя варьировалась от 0．5 до 4 нм．Обнаружено， что поле насыщения H_s изучаемых образцов осциллирует по величине с изменением толщины медного слоя с периодом порядка 1 нм．Максимальные значения Н_s наблюдаются для тонкопленочных систем с толщиной слоя Сu t_(Cu) ＝ 1.4， 2．2 и 3．2 нм．Петли гистерезиса， измеренные для этих образцов в магнитном поле， приложенном вдоль оси легкого намагничивания образца， имеют двухступенчатую форму， а образцы с другими значениями tcu — прямоугольную．Полученные данные объяснены наличием обменного взаимодействия между ферромагнитными слоями через медный разделительный слой и его осциллирующим поведением с изменением t_(Cu).