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机译:一种使用光谱域干涉仪同时测量大型硅晶片的厚度,折射率,弓形和翘曲的新方法
Korea Res Inst Stand &
Sci Div Phys Metrol Daejeon South Korea;
Univ Sci &
Technol Dept Sci Measurement Daejeon South Korea;
Korea Res Inst Stand &
Sci Div Phys Metrol Daejeon South Korea;
Korea Res Inst Stand &
Sci Div Phys Metrol Daejeon South Korea;
large silicon wafer; thickness; refractive index; bow; warp; spectral-domain interferometer;
机译:通过光谱分辨干涉仪测量的硅晶片的厚度和翘曲的不确定性评估
机译:通过具有双样品探针的光谱域低相干干涉法同时测量折射率和厚度
机译:线场扫频干涉仪,可同时测量厚度和折射率分布
机译:三点支持反相法同时测量大直径硅晶片的翘曲和厚度
机译:使用原位椭偏仪在快速热处理中测量和控制硅片温度和氧化膜厚度。
机译:光谱域光学相干层析成像技术在不同屈光状态的正常伊朗眼睛中的脉络膜厚度分布
机译:通过使用新的相移算法和波长调谐干涉仪精确测量硅晶片的表面形状
机译:关于电离层中超短波折射的南北分量和光学厚度梯度的测量方法obodn metode izmereniya severno-yuzhnoy sostavlyayushchey refraktsii ukb v ionosfere i gradient a opticheskoy