机译:采用光学电压量热法测定的所选II-VI半导体的热性能
Nicolaus Copernicus Univ Fac Phys Astron &
Informat Inst Phys Grudziadzka 5 PL-87100 Torun Poland;
Semiconductors; Crystal growth; Thermal conductivity; Mixed crystals;
机译:光电热法和红外锁定热成像法对II-VI二元晶体进行热表征
机译:通过热释电量热法和红外锁定热成像法对II-VI型二元晶体进行热表征(2015年,第119卷,第319页)
机译:光声量热法和光素电技术的PPY / PLA复合材料热表征
机译:选定金属,工业石墨和磁性材料的热扩散率测量:过零和相方法与光热电技术的比较研究
机译:悬浮热反射技术的开发及其在半导体材料的热性能测量中的应用
机译:将热分析与差示扫描量热法,四极质谱法和红外光谱法(TG-DSC-QMS-FTIR)结合使用,以监测黄腐酸和腐殖酸的化学性质和热稳定性
机译:采用光学电火力热法测定的所选II-VI半导体的热性能
机译:2,4,6-三硝基甲苯热分解:等温差示扫描量热法测定动力学参数