首页> 外文期刊>Applied optics >High-refractive-index capping layer improves top-light-emitting device performance
【24h】

High-refractive-index capping layer improves top-light-emitting device performance

机译:高折射率覆盖层提高了顶级发光器件性能

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
获取外文期刊封面目录资料

摘要

The performance of top-emitting organic light-emitting devices (TEOLEDs) was improved with capping layers having high refractive indices. The TEOLFD electroluminescence was examined with different capping materials on the same device structure. The luminance and power efficiency in the forward direction was improved significantly by using a high-refractive-index capping layer. (C) 2020 Optical Society of America
机译:通过具有高折射率的封端层改善了顶部发射有机发光器件(Teoleds)的性能。 用不同的封盖材料在同一设备结构上检查Teolfd电致发光。 使用高折射率覆盖层显着提高了向前方向上的亮度和功率效率。 (c)2020美国光学学会

著录项

  • 来源
    《Applied optics》 |2020年第13期|共8页
  • 作者

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 应用;
  • 关键词

获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号