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Fabrication of an infrared wire-grid polarizer via anisotropical Si etching in KOH solution

机译:通过KOH溶液的各向异性Si蚀刻制造红外线栅极偏振器

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摘要

An infrared wire-grid polarizer was fabricated using two-beam interference lithography, anisotropical etching of Si in KOH solution, and thermal evaporation of Al. Consequently, an infrared wire-grid polarizer with a 1-mu m-pitch and 195-nm-thick Al grating could be fabricated on the Si grating. The transmittance of transverse magnetic polarization was greater than 48% at 10-mu m wavelength, and the extinction ratio was over 22 dB at this wavelength. This polarizer can be fabricated at a much lower cost and using simpler fabrication processes compared to those for conventional infrared polarizers fabricated using dry etching. (C) 2020 Optical Society of America
机译:使用双光束干扰光刻,在KOH溶液中的各向异性蚀刻进行制造红外线栅极偏振器,以及Al的热蒸发。 因此,可以在Si光栅上制造具有1-mu m沥青和195-nm厚的Al光栅的红外线栅极偏振器。 横向磁极化的透射率大于10-mu m波长的48%,并且在该波长下消光率超过22 dB。 与使用干蚀刻制造的传统红外偏振器相比,该偏振器可以以低得多的成本和使用更简单的制造工艺制造。 (c)2020美国光学学会

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    《Applied optics》 |2020年第18期|共6页
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  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 应用;
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