首页> 外文期刊>Электронная Обработка Материалов >Характеристики процесса ионно-химического травления монокристаллического кремния плазмой комбинированного разряда
【24h】

Характеристики процесса ионно-химического травления монокристаллического кремния плазмой комбинированного разряда

机译:结合排出的单晶硅等离子体离子化学蚀刻方法的特征

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
       

摘要

Представлены результаты технологических испытаний разработанного и изготовленного разрядного устройства, предназначенного для плазменного травления материалов, используемых в технологии микроэлектроники. Особенностью организации процесса обработки является управляемое воздействие на поверхность материала химически активными частицами, создаваемыми в условиях комбинированного (СВЧ и НЧ поля) разряда. Результаты экспериментов показали высокие количественные и качественные характеристики процессов удаления материалов (в частности травления монокристаллического кремния), реализуемых в разработанном разрядном устройстве.
机译:提出了用于等离子体蚀刻在微电子技术中使用的材料的开发和制造的放电装置的技术试验结果。处理过程的处理的特征是对材料表面的受控撞击,其具有在组合(微波和洛伐率)排出条件下产生的化学活性颗粒。实验结果表明,在发达的放电装置中实施的材料去除材料(特别是蚀刻的单晶硅)的过程的高定量和定性特征。

著录项

获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号