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【24h】

パッケ一ジからLSI、コンデンサ、抵抗まで電子部品の信頼性設計講座(12)(最終回)中小電子機器メーカ-にこそ必要な良品解析

机译:从封装1ST到LSI,电容,电阻(12)(最终圆形)小型电子设备制造商 - 必要产品分析的可靠性设计过程

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摘要

ながらく信頼性設計の連載講座をしてきたが、この度.一応の締めくくりをしなくてはならないこととなった.信頼性工学は故障発生の状態を統計、確率論で整理をして将来の故障発生の確率等を推測する理論と一般に信頼性試験と呼ばれている環境試験、加速寿命試験,その上に故障解析が存在することで構成されている。 本講座では信頼性エ学の理論や俣頼性試験を抜かして故障解析、さらに故障解析を利用した良品解析の解説を中心として話を進めてきた.
机译:虽然这是一系列的可靠性设计。这次必须得出结论。可靠性工程失败失败,组织失败状态并以概率理论排列,并在未来发生在未来的情况下这指定了概率等的概率,并且通常,环境测试,加速寿命试验和故障分析。 在本课程中,可靠性理论分析和欺骗测试,谈话主要用于故障分析评论和使用故障分析的良好产品分析。

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