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【24h】

統計的コンパレータを用いたアナログーディジタル変換回路の性能解析

机译:统计比较器模拟数字转换电路性能分析

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摘要

統計的コンパレータのランダムなオフセット電圧ばらつきを解析し,統計的コンパレータを用いたアナログーディジタル変換回路(ADC)の性能評価モデルを提案した.まず,統計的コンパレータの分解能と他のパラメータの関係を確率密度関数で表現した.そして,統計的コンパレータの歩留まりを計算するために各デザインパラメータと性能の関係を導いた.このときに,複雑な厳密計算を避け,出力コードの各アナログステップ間の相関を無視する近似を用いることで解析的なモデル構築を行った.そして,モンテカルロシミュレーションにより,計算結果の妥当性を確認した.歩留まりが0.8以上という現実的な値ではこのパフォーマンスモデルは統計的ADCの正確な歩留まりを計算できることを示した.この結果を用いて,キャリブレーションを行うADCとキャリブレーションを行わないADCの性能を定量的に比較し,キャリブレーションによりADCの分解能を約2ビット改善できることを示した.
机译:分析统计比较器的随机偏移电压变化,我们提出了一种使用统计比较器的类似数字转换电路(ADC)的性能评估模型。首先,表示统计比较器分辨率与其他参数之间的关系被表示为概率密度函数。并且,我们带领每个设计参数和性能关系来计算统计比较器的产量。此时,通过避免输出代码的每个模拟步骤之间的复杂精确计算和忽略相关性来执行分析模型结构。然后,通过Monte Carlo仿真确认了计算结果的有效性。该性能模型表明,该性能模型可以计算统计ADC的精确产量,其具有0.8或更多的屈服。该结果用于定量地比较DACS的性能,该校准和不校准的ADC的性能,并表明ADC的分辨率可以通过校准提高约2比特。

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