ТЕСТИРОВАНИЕ СХЕМ С АНАЛОГОВЫМИ И СМЕШАННЫМИ СИГНАЛАМИ СО ВСТРОЕННЫМ ТЕХНИЧЕСКИМ ОБЕСПЕЧЕНИЕМ ДЛЯ ОБРАБОТКИ ДАННЫХ

摘要

За последние несколько лет появились СБИС для тестирования аналоговых и смешанных сигналов на основе технологии "система на чипе" (80С). Применение встроенных средств тестирования обеспечивает возможность контроля продукции на всех этапах и уменьшения стоимости производственного цикла. Совмещение на одном чипе схем тестирования аналоговых и цифровых сигналов позволяет существенно сократить объем микросхем. Пример блок-диаграммы встроенной системы самодиагностики В18Т приведен на рис. 1, где обозначено: 1 - сигналы активации, 2 - контролируемая схема, 3 - отклик системы измерения, 4 - тестовый контроллер. Проведенный анализ показал, что до 85% стоимости тестирования приходится на аналоговые функции, в то время, как аналоговая часть микросхемы составляет только примерно 10%. Применение технологии DFT (проектирование для тестирования) позволяет существенно уменьшить стоимость тестирования аналоговых сигналов. Метод тестирования в режиме осцилляции с помощью схем OBIST позволяет оптимизировать алгоритмы тестирования на основе функционального моделирования.