Разработан комплекс программ анализа микрофотоизображений структуры нетканых материалов. Потребность в использовании таких программ обусловлена необходимостью выявления структурных отличий в многомерных признаках исследуемых объектов, которые содержат информацию об их состояниях. Это позволяет использовать их для классификации объектов, описываемых признаками различной физической природы без их предварительной нормировки. Приведен явный вид предлагаемых мер, а эффективность их использования в алгоритмах автоматической классификации показана на кластеризации образов полипропиленового нетканого материала спанбонд.
展开▼
