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二層構造表面性状の評価(第2報,パラメータの導出)

机译:评估双层结构表面属性(第2次报告,参数推导)

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摘要

二層構造表面をパラメータにより評価し,しゅう動面やその加工において利用することは,工業界において非常に重要な評価技術であると考えられる.しかし,ISO 13565-3(以下ISOという)が規定する評価方法は,手順が非常に煩雑であり計算時間が長いため工業界で活用された例はほとhどない.本研究は,前報の双曲線当てはめのアルゴリズムの妥当性を確認し,二層構造表面の評価が産業界で利用できるように,ISO 13565-3の規定を損なわない範囲で計算時間を短縮することを主目的とする.本研究では,標準の評価長さの粗さ曲線から求める粗さパラメータを対象にする.ISOによる二層構造表面の粗さパラメータは,正規確率紙上で定義される図1のRpq,Rvq,Rmgである.sは標準偏差を表す.これらのパラメータは,双曲線の線形近似領域UPL~LPL,UVL~LVLにおける回帰直線から求める.UPL,LVLを導く手法は前報で報告したが,本研究では,まずLPL,UVLを効率よく導く手法を開発し,プラトー加工の目安を粗さパラメータRmgを用いて考察する.なお,本研究でいう負荷曲線とは,正規確率紙に表された負荷曲線を指すものとする.
机译:据信,通过参数评估双层结构表面,并且在移动表面中的利用率及其处理被认为是工业世界中非常重要的评估技术。然而,ISO 13565-3(以下简称ISO)指定的评估方法具有非常复杂的过程,并且具有长的计算时间,并且在行业中没有示例。本研究检查了先前报告的双曲拟合算法的有效性,并缩短了计算时间而不损害ISO 13565-3的规定,以便在行业中使用两层结构表面的评估。主要目的是。在该研究中,从标准评估长度的粗糙度曲线获得的粗糙度参数。 ISO的双层表面的粗糙度参数是RPQ,RVQ,图1的RMG。在正概率纸上定义。 S代表标准偏差。这些参数由来自与双曲线的LPL,UVL到LVL的自由基线性近似区域确定。在上一份报告中报告了引导USP和LVL的方法,但在本研究中,我们首先开发一种用于有效领导LPL和UVL的方法,并考虑使用粗糙度参数RMG的平台处理标准。此外,本研究中提到的负载曲线应指由正概率纸表示的负载曲线。

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