В статье рассмотрены основные задачи и проблемы при разработке автоматизированных испытательных стендов (АИС), их функциональные особенности и структура. Показаны конфигурации и принципы реализации широко применяемых в современ ных испытательных установках функционально завершенных информационных измерительных систем на элементной базе современной микроэлектроники.
展开▼
