Представлен новый подход к построению измери-телей параметров рассеяния нелинейных СВЧ-устройств на основе известных многополюсных рефлектометров и ориги-нального принципа частотно-селективного диодного преобра-зования. Приведены результаты экспериментальных исследова-ний, рассмотрены перспективы применения нового подхода.
展开▼
