首页> 外文期刊>Физика твердого тела: ФТТ >ВЛИЯНИЕ МИКРОСТРУКТУРЫ НА ФИЗИКО-МЕХАНИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА АЛЮМИНИЕВОГО СПЛАВА СИСТЕМЫ AL-MG-SI, НАНОСТРУКТУРИРОВАННОГО ИНТЕНСИВНОЙ ПЛАСТИЧЕСКОЙ ДЕФОРМАЦИЕЙ
【24h】

ВЛИЯНИЕ МИКРОСТРУКТУРЫ НА ФИЗИКО-МЕХАНИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА АЛЮМИНИЕВОГО СПЛАВА СИСТЕМЫ AL-MG-SI, НАНОСТРУКТУРИРОВАННОГО ИНТЕНСИВНОЙ ПЛАСТИЧЕСКОЙ ДЕФОРМАЦИЕЙ

机译:微观结构对铝合金Al-Mg-Si系统物理性能的影响,纳米结构强塑性变形

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
获取外文期刊封面目录资料

摘要

Исследованы микроструктурные особенности, прочность и электропроводность электротехнического алюминиевого сплава 6201 системы Al-Mg-Si, наноструктурированного методом интенсивной пластической деформации кручением под давлением при различных температурах и режимах деформирования. В результате в образцах получена ультрамелкозернистая структура с наноразмерными включениями вторичных фаз, обеспечивающая отличную комбинацию высокой прочности (условный предел текучести sigma_(0.2)=325-410 MPa) и электропроводности (55-52% IACS). Проведен анализ вкладов различных механизмов в достигнутое упрочнение. Экспериментально установлено, что введение дополнительной плотности дислокаций (повышение с 2·10~(13) до 5·10~(13) m~(-2)), при сохранении основных параметров ультрамелкозернистой структуры (размера зерна, размера и распределения вторичных упрочняющих фаз), приводит к увеличению прочности данного сплава на ~15%, при этом значение электропроводности материала изменяется незначительно. Проведена оценка вклада границ зерен в электросопротивление УМЗ-сплава за счет изменения их состояния, связанного, наиболее вероятно, с изменением степени неравновесности. Рентгеноструктурные исследования проведены с использованием оборудования Ресурсного центра научного парка СПбГУ "Рентгенодифракционные методы исследования". Авторы А.М.М., М.Ю.М. и Р.З.В. выражают благодарность Министерству образования и науки Российской федерации за финансовую поддержку проекта N 14.Б25.31.0017.
机译:Al-Mg-Si系统6201的电气技术铝合金6201的微结构特征,强度和导电性,通过在各种温度和变形模式下压力强加压力的强度塑性变形方法。结果,在样品中获得具有纳米级夹杂度的超产生的结构,其提供高强度的优异组合(条件屈服强度Sigma_(0.2)= 325-410MPa)和电导率(55-52 %IACS)。对达到硬化的各种机制的贡献分析进行了分析。实验确定,引入额外的位错密度(增加C 2·10〜(13)至5·10〜(13)m〜(2)),同时保持超细晶粒的主要参数结构(晶粒尺寸,次级硬化相的尺寸和分布),导致该合金强度的增加〜15%,材料的电导率的值略有不同。由于其条件相关的变化,晶界对UMS-合金的电阻的贡献最有可能改变非平衡程度。利用圣彼得堡州立大学“X射线衍射方法研究”的科学园区资源中心的设备进行X射线结构研究。作者:M.M.M.M.M.M.M.M..和r.z.v.感谢俄罗斯联邦教育部和科学部的财务支持项目,项目N 14.b25.31.0017。

著录项

  • 来源
  • 作者单位

    Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий механики и оптики Санкт-Петербург Россия;

    Санкт-Петербургский государственный университет Санкт-Петербург Россия;

    Институт физики перспективных материалов Уфимского государственного авиационного технического университета Уфа Россия;

    Институт физики перспективных материалов Уфимского государственного авиационного технического университета Уфа Россия;

    Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий механики и оптики Санкт-Петербург Россия;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 rus
  • 中图分类 固体物理学;
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号