最尤推定に基づく新しい粉末構造解析法

摘要

結晶性の物質にX線ビームを照射しながら写真を撮影すると、物質によって異なる図形が写真の上に現れる。その図形は原子がX線を回折（散乱）する現象に基づいており、物質の中で原子がどのように並hでいるかによって決まる。特に微細な結晶性粉末を試料として用いた場合に、同じ物質なら必ず共通の図形が現れる。この現象を利用して物質中の原子の並び方を推定する方法（粉末回折法）を、1915年にDebyeとScherrerが考案した。現在では金属やセラミックスなどの実用材料の評価や、天然の鉱物、医薬品を含む低分子量の有機化合物、腐食生成物の分析などに広く応用されている。