МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ОСНОВНЫХ ПАРАМЕТРОВ ЦИФРОВЫХ ЗАЩИТНЫХ ГОЛОГРАММ ДЛЯ ЭКСПЕРТНОГО АНАЛИЗА И ОПЕРАТИВНОГО КОНТРОЛЯ ИХ КАЧЕСТВА

摘要

Разработаны метод и устройство измерения основных параметров синтезированных защитных голограмм с использованием возможностей микроскопии микронного разрешения и дифрактометрии с мультиугловой системой освещения. При последовательном освещении под различными углами коллимированными монохроматическими источниками света поверхности голограммы в поле наблюдения специального цифрового микроскопа и обработке полученных изображений формируется информационная карта поверхности, которая содержит данные об основных параметрах "голопикселей", составляющих структуру защитной голограммы (шаге дифракционных решёток, их угловой ориентации, нормированной интенсивности отражённого света), а также совмещённое с указанной картой изображение поверхности голограммы в рассеянном свете. Перемещениями исследуемой голограммы в плоскости фокуса цифрового микроскопа на расстояние, равное полю наблюдения микроскопа, с последующей "сшивкой" полученных данных достигается построение информационной карты всей поверхности голограммы с микронным разрешением.