Электронно-микроскопическое исследование пластиковых реплик

摘要

Метод пластиковых реплик широко применяется в энергетике для неразрушающего контроля микроструктуры и поврежденности металла длительно эксплуатирующегося высокотемпературного оборудования ТЭС [1]. При своей относительной простоте и невысокой стоимости он является достаточно информативным и обеспечивает получение необходимых данных для принятия решений. Но чтобы иметь качественные результаты, следует учитывать определенные нюансы и специфику применения этого метода.