冷却型CCD撮像素子の放射線照射応答

摘要

高感度放射線画像計測用の冷却型CCD撮像素子は、放射線損傷に弱いことが問題である。また、この素子には特徴的な白点ノイズがあり、この現象も実用上大きな障害となっていた。この白点ノイズは、放射線が存在しないバックグランドでも現われるが、その多くは、同じ位置に出現する固定パターンノイズ(FPN)であった。放射線照射下では、この白点ノイズ数が著しく増大するが、その多くは、出現位置が変動するランダムノイズであった。この白点ノイズは、放射線の照射の終了とともに速やかに減少するが、照射前よりも、ノイズは増加している。この増加したノイズは固定パターンノイズであった。これらの事実は、白点ノイズとCCD素子の放射線照射損傷に強い相関があることを示している。