Методами растровой и оптической микроскопии выполнено исследование дефектов аморфных проводов Со-сплава близкого поперечного сечения, полученных методами melt spinning, INROWASP, Улитовского - Тейлора. Отмечены характерные типы дефектов для каждого полуфабриката. Для узких аморфных лент (метод melt spinning) и "тонких" проводов (метод Улитовского - Тейлора) имеет место образование закрытых газовых пор. Для метода INROWASP фиксируются существенные отклонения геометрических параметров аморфного провода из-за нестабильностей, возникающих при взаимодействии струи расплава с жидким охладителем. Установлено, что наибольшую стабильность геометрических параметров и наименьшее количество структурных дефектов имеют "толстые" аморфные провода, полученные методом Улитовского - Тейлора.
展开▼
