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【24h】

半導体製造装置におけるパーテイクル対策

机译:半导体制造设备中的分区对策

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摘要

半導体製造装置で発生するパーティクルは様々な異なる挙動をもつため、装置構成やプロセス条件に対応したパーティクル対策が必要である。半導体製造の量産現場においてパーティクル汚染を防止するためには、実際の量産条件でパーティクル挙動を可視化し、解析することにまって対策を施していかなければならない。しかし、量産ラインの半導体製造装置にパーティクル可視化システムを搭載することはプロセス影響やコスト面で障壁が高く、製造装置の設計段階からパーティクル挙動に関して検討していくことが重要である。
机译:由于半导体制造设备中产生的颗粒具有各种不同的行为,因此有必要针对与设备配置和工艺条件相对应的颗粒采取措施。为了防止在半导体制造的批量生产现场中的颗粒污染,有必要通过可视化和分析实际批量生产条件下的颗粒行为来采取措施。然而,将粒子可视化系统安装在批量生产线上的半导体制造装置上在工艺影响和成本方面具有较高的障碍,并且从制造装置的设计阶段研究粒子行为很重要。

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