РАЗРАБОТКА МЕТОДИКИ УСКОРЕННЫХ ИСПЫТАНИЙ ХРОНОГРАФИЧЕСКИХ ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ: БАЗОВЫЕ ПОЛОЖЕНИЯ

摘要

Представлены результаты исследования изменения чувствительности в ходе наработки на отказ хронографических электронно-оптических преобразователей (э.о.п.), выпускаемых во ВНИИА. Показано, что для корректного определения долговечности таких э.о.п. во время ускоренных испытаний следует учитывать поправочную функцию, обусловленную процессами обратимого изменения чувствительности фотокатода э.о.п. Описана разработанная методика ускоренных испытаний э.о.п., основное отличие которой от существующих заключается в использовании данной поправочной функции.