...
首页> 外文期刊>Приборы и техника эксперимента >АБСОЛЮТНАЯ КАЛИБРОВКА РЕНТГЕНООПТИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ И ДЕТЕКТОРОВ НА ДЛИНЕ ВОЛНЫ 46.9 нм
【24h】

АБСОЛЮТНАЯ КАЛИБРОВКА РЕНТГЕНООПТИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ И ДЕТЕКТОРОВ НА ДЛИНЕ ВОЛНЫ 46.9 нм

机译:波长为46.9 nm的X射线光学元件和检测器的绝对校准

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

Представлены результаты абсолютной калибровки рентгенооптических элементов (дифракционных решеток, многослойных интерференционных Sc-Si-зеркал) и детекторов (фотопленки УФ-4 и вакуумного рентгеновского диода), применяемых в диагностических приборах при исследовании генерации лазерного рентгеновского излучения аргоновой плазмы капиллярного разряда (λ = 46.9 нм). Измерения проведены на станции мягкого рентгеновского и вакуумного ультрафиолетового излучения накопительного кольца ВЭПП-4 Сибирского международного центра синхротронного излучения. В качестве эталонного детектора использован абсолютно откалиброванный фотодиод AXUY 100G. Относительная погрешность калибровки составила 10%. Полученные коэффициенты отражения многослойных зеркал и дифракционных решеток хорошо (в пределах погрешности) согласуются с результатами их калибровки на рентгеновском калибровочном комплексе РКК-1-100.
机译:本文介绍了用于诊断设备的X射线光学元件(衍射光栅,多层干涉Sc-Si镜)和检测器(UV-4摄影胶片和真空X射线二极管)的绝对校准结果,该研究用于研究毛细放电(λ= 46.9 nm)的氩等离子体产生的X射线辐射)。测量是在西伯利亚国际同步加速器辐射中心VEPP-4储存环的软X射线和真空紫外线辐射站进行的。绝对校准的AXUY 100G光电二极管用作参考检测器。相对校准误差为10%。所获得的多层反射镜和衍射光栅的反射系数与它们在X射线校准复合体RKK-1-100上的校准结果吻合良好(误差范围内)。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号