Рассматриваются методологические подходы к изучению микроструктуры гексаферрита стронция, характера распределения микродобавок и особенностей их химического и электронного состояния на поверхности и в объеме кристаллитов спеченных образцов. Сочетание структурных (рентгенофазового анализа, растровой электронной микроскопии) и спектральных (рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, Оже- и ИК-спектроскопии) методов позволило установить тонкие структурные особенности гексаферрита стронция, легированного добавками SiO_, CaCO_3, H_3BO_3. Выявлены повышенная концентрация стронция и кальция в приповерхностном слое зерен гексаферрита относительно объема и преимущественное расположение кремния и бора на поверхности кристаллитов, изучены структурные и концентрационные неоднородности в зернах и выявлены особенности электронного состояния основных и примесных элементов в поверхностном слое зерен и химического взаимодействия между ними на границе зерен.
展开▼