首页> 外文期刊>Дискретный анализ и исследование операций, Серия 1 >О НАДЕЖНОСТИ СХЕМ В БАЗИСАХ {→, →}, {→, ?} ПРИ НЕИСПРАВНОСТЯХ ТИПА 0 НА ВЫХОДАХ ЭЛЕМЕНТОВ
【24h】

О НАДЕЖНОСТИ СХЕМ В БАЗИСАХ {→, →}, {→, ?} ПРИ НЕИСПРАВНОСТЯХ ТИПА 0 НА ВЫХОДАХ ЭЛЕМЕНТОВ

机译:关于元素输出时基于类型为0的故障的基础{→,→},{→,?}中的电路的可靠性

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
       

摘要

В каждом из базисов B_1 = {→, →}, B_2 = {→, ?} при неисправностях типа 0 на выходах элементов найден класс булевых функций K_i (i = 1,2) такой, что ненадежность схемы, реализующей функции из K_i, будет асимптотически не меньше 2γ (γ- вероятность неисправности одного элемента) приγ→0. Тем самым доказано, что полученные ранее верхние оценки ненадежности схем оказались достаточно точны, а именно, они асимптотически равны нижним оценкам ненадежности схем, реализующих булевы функции из классов K_i (i = 1,2). Для этих классов асимптотически наилучшие по надежности схемы функционируют с ненадежностью 2γ при γ→0.
机译:在每个基数B_1 = {→,→},B_2 = {→,?}中,对于元素输出处类型0的故障,发现一类布尔函数K_i(i = 1,2),从而使得从K_i实现函数的电路不可靠。渐近至少2γ(γ是一个元素的失效概率)为γ→0。这证明了较早获得的电路的不可靠性的上限是相当准确的,即,它们渐近地等于实现来自K_i类(i = 1,2)的布尔函数的电路的不可靠性的下限。对于这些类别,渐近最佳可靠性方案在γ→0的情况下以2γ的不可靠性运行。

著录项

获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号