Спектральная плотность мощности шума волоконного интерферометра рассеянного излучения с полупроводниковым лазерным источником

摘要

Рассмотрены спектральные характеристики шумовых флуктуации интенсивности на выходе интерферометра рассеянного излучения, вызванные флуктуациями фазы излучения полупроводникового лазера. Данный вид шума является одним из основных факторов, ограничивающих чувствительность интерферометрических датчиков. Впервые, по нашим сведениям, получено выражение для средней спектральной плотности мощности шума на выходе интерферометра в зависимости от степени когерентности источника и длины рассеивающего участка. Рассмотрены также приближенные выражения, определяющие спектральную плотность мощности в области низких частот (до 200 кГц) и в пределе больших длин рассеивающих участков. Полученное выражение для спектральной плотности мощности шума с хорошей точностью согласуется с экспериментальными нормированными спектрами мощности.