Moderne Topografiebewertung in der Papierindustrie

摘要

Zur Bewertung der Oberflächenstruktur von Papier und Karton wird in der Papierindustrie noch heute vorwiegend eine integrale Messgröße herangezogen. Sie wird auf indirektem Wege mit den sogenannten Luftstrom-messverfahren generiert und gestattet keine umfassende Charakterisierung der Oberfläche. Im Rahmen eines Forschungsprojektes wurden zwei optische Messprinzi-pien bezüglich ihrer Eignung zur Topografiebewertung von Papier und Karton anhand verschiedener Produktgruppen näher beleuchtet. Auf der Basis umfangreicher messtechnischer Untersuchungen werden Möglichkeiten und Grenzen der optischen Topografiemessung von Papier herausgearbeitet. Es wird ein Brückenschlag zu den konventionellen Luftstrommessverfahren hergestellt.