机译:基于二分搜索法的低成本TSV测试与诊断方案
, MStar Semiconductor (Shenzhen) Inc., Shenzhen, China;
Binary search; diagnosis; test; through-silicon-via (TSV); through-silicon-via (TSV).;
机译:基于量子启发式二进制重力搜索算法和K-NN方法的混合系统面临的二进制问题分类
机译:K-Shortest Steiner树的转换为有效进化方法的二进制动态问题
机译:基于二重引力搜索的基于LWT-SPSR-SVD的RVM轴承故障诊断
机译:基于振荡的技术用于多个TSV的键合后并行测试和诊断
机译:基于可能性的推理方法测试效果规模尺寸措施,具有双边结果的分层相关二元数据
机译:具有无损测试输出压缩方案的低成本并发TSV测试架构
机译:一种基于BIST方法的混合低成本PLL测试方案