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Criticality Safety Validation of SCALE 6.1 with ENDF/B-VII.0 Libraries

机译:带有ENDF / B-VII.0库的SCALE 6.1的关键安全性验证

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摘要

The average C/E values shown in Table I, Fig. 1, andrnFig. 2 indicate a fairly small code bias for a wide range ofrnpotential systems. The bias is less than 1% for allrncategories of systems examined, and less than 0.5% forrnalmost all categories in KENO V.a. The biases appear tornbe larger in KENO-VI, but all biases are less than 0.8%.rnThe higher apparent biases for KENO-VI may be a resultrnof the increased geometric complexity of the KENO-VIrnbenchmark experiments, which makes it more difficult tornprecisely measure and report all geometric details forrnthese experiments.
机译:表1和图1所示的平均C / E值。 2表示对于大范围的电位系统来说,代码偏差很小。对于所检查系统的所有类别,偏差小于1%,对于KENO V.a中的几乎所有类别,偏差小于0.5%。 KENO-VI中的偏差似乎更大,但所有偏差均小于0.8%。rnKENO-VI的较高表观偏差可能是KENO-VI基准测试的几何复杂性增加的结果,这使得精确测量和测量更加困难。报告这些实验的所有几何细节。

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