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Contribution of Sims to the study of the atomic transport in Cr_2O_3 and Al_2O_3 oxides

机译:Sims对Cr_2O_3和Al_2O_3氧化物中原子迁移的研究的贡献

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摘要

Parmi toutes les techniques susceptibles d'etre utilisees pour determiner les coeffi- cients de diffusion dans des materiaux refractaires tels que les oxydes, la technique d'analyse par spectrometrie de masse d'ions secondaires (SIMS) presente des avantages certains.
机译:在所有可能用于确定耐火材料(例如氧化物)中扩散系数的技术中,通过二次离子质谱(SIMS)分析技术具有某些优势。

著录项

  • 来源
    《Le Vide》 |1999年第292期|p.192-222|共31页
  • 作者

    A. M. Huntz;

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 真空技术;
  • 关键词

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