...
首页> 外文期刊>Поверхность Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования >СТРУКТУРНЫЕ ИЗМЕНЕНИЯ ПОВЕРХНОСТИ СПЛАВА АК5М2 ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ИНТЕНСИВНОГО ИМПУЛЬСНОГО ЭЛЕКТРОННОГО ПУЧКА
【24h】

СТРУКТУРНЫЕ ИЗМЕНЕНИЯ ПОВЕРХНОСТИ СПЛАВА АК5М2 ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ИНТЕНСИВНОГО ИМПУЛЬСНОГО ЭЛЕКТРОННОГО ПУЧКА

机译:在暴露于强脉冲电子束时Ak5m2合金表面的结构变化

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Проведена обработка поверхности А1-Si сплава марки АК5М2 интенсивным импульсным электронным пучком в различных режимах (энергия ускоренных электронов 17 кэВ, плотность энергии пучка электронов 10, 20, 30, 40 и 50 Дж/см~2, длительность импульсов 50 и 200 мкс, количество импульсов 3, частота следования импульсов 0.3 с~(-1)). Выполнен анализ микротвердости, а также методами растровой электронной микроскопии и рентгенофазового анализа исследован элементный и фазовый состав и состояние дефектной субструктуры поверхностного слоя. Показано, что увеличение микротвердости Аl-Si-сплава обусловлено формированием субмикроразмерной структуры высокоскоростной ячеистой кристаллизации, обогащением твердого раствора на основе алюминия легирующими и примесными элементами, повторным выделением наноразмерных частиц упрочняющих фаз. Высказано предположение, что более высокие значения микротвердости, выявленные в сплаве, облученном при 50 Дж/см~2, 50 мкс, по сравнению со сплавом, облученном при 50 Дж/см~2, 200 мкс, обусловлены процессом отпуска материала, имеющими большее развитие при большей длительности воздействия пучка электронов в импульсе.
机译:AK5M2品牌Ak5M2品牌的A1-Si表面处于各种模式下进行强烈的脉冲电子束(加速电子17keV的能量,电子束能量密度10,20,30和50J / cm〜2 ,脉冲持续时间50和200μs,量脉冲3,脉冲频率为0.3 s〜(-1))。进行了对显微硬度的分析,研究了光栅电子显微镜和X射线相分析的方法,研究了元件和相组合物和表面层的缺陷副结构的状态。结果表明,微硅基微硅合金的增加是由于形成高速细胞结晶的亚微米结构的形成,通过合金化和杂质元素富集固体溶液,RE - 纳米级污水阶段的释放。建议由于发出较大发育的过程,在50J / cm〜2,50μs照射的合金中透露在50J / cm〜2,50μs的合金中,较高的微硬度值。在脉冲中具有更大持续时间的电子束曝光。

著录项

获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号