机译:RRAM体系结构中单事件不安定性的系统级分析
Arizona State Univ, Tempe, AZ 85287 USA;
Arizona State Univ, Tempe, AZ 85287 USA;
Arizona State Univ, Tempe, AZ 85287 USA;
RRAM; 1T1R; crossbar; radiation effects; single event upset; bit error rate;
机译:通过概率模型检查对遭受单事件干扰的处理器漏洞进行系统级分析
机译:<公式公式类型=“ inline”>
机译:Actel RTAX-S系列现场可编程门阵列中对高频的单事件翻转依赖性和体系结构实现的分析
机译:基于2T1R的紧凑型内存结构,可防止RRAM阵列中的单事件发生
机译:SRAM的体系结构设计,具有片上错误检测和针对单事件翻转的纠正功能。
机译:低摆幅驱动器的单事件翻转灵敏度分析
机译:单一事件upsets(SEU)调查分析
机译:Xilinx Virtex II FpGa的单事件翻转敏感性测试