机译:MCLNTYRE雪崩触发概率模型的分析解决方案,用于表现紧凑型展示性能勘探
Univ Claude Bernard Lyon 1 Univ Lyon INSA Lyon CNRS Ecole Cent Lyon CPE Lyon INL UMR5270 Villeurbanne France|STMicroelectronics Crolles France;
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Univ Claude Bernard Lyon 1 Univ Lyon INSA Lyon CNRS Ecole Cent Lyon CPE Lyon INL UMR5270 Villeurbanne France|STMicroelectronics Crolles France;
STMicroelectronics Crolles France;
Univ Jean Monnet St Etienne Inst Opt Grad Sch Lab Hubert Curien St Etienne France;
Univ Claude Bernard Lyon 1 Univ Lyon INSA Lyon CNRS Ecole Cent Lyon CPE Lyon INL UMR5270 Villeurbanne France;
single photon avalanche diode; avalanche triggering probability; McIntyre model; dark count rate; compact modeling;
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