机译:SF 6 sub>分解组分与自由金属颗粒引发的局部放电电荷量之间的相关性分析
State Key Laboratory of Power Transmission Equipment and System Security and New Technology, School of Electrical Engineering, Chongqing 400044, People's Republic of China|c|;
机译:使用SF 6分解成分分析诊断游离金属颗粒缺陷引发的局部放电严重程度
机译:由针板缺陷发起的SF6分解组分与负直流局部放电强度的相关分析
机译:SF 6 sub>分解组分的形成过程与局部放电质量的相关性分析
机译:直流局部放电下不同金属线型自由导电粒子对SF 6 sup>含硫分解成分的研究
机译:电极表面电荷积累对局部放电行为的影响。
机译:K型分子筛沉积多壁碳纳米管在部分放电条件下检测SF6分解气体的灵敏度分析
机译:用sF6分解成分分析诊断游离金属颗粒缺陷引起的局部放电严重程度
机译:电子转移过程动力学与反应自由能变化的相关性。电子交换引发化学发光反应的应用。