机译:用于监测过程分散的新S〜2-TEWMA控制图
Visva Bharati Univ Dept Stat Santini Ketan W Bengal India;
Natl Tech Univ Athens Dept Math Athens 15773 Greece;
Natl Tech Univ Athens Dept Math Athens 15773 Greece;
average run length; control chart; exponentially weighted moving average; process dispersion; standard deviation of run length; triple exponentially weighted moving average;
机译:在设计什锦控制图方法来监控过程分散中的应用:硬烘焙过程的应用
机译:新的指数加权移动平均控制图用于监视过程均值和过程离散
机译:用于监视过程均值和过程分散的新综合控制图
机译:新的S控制图,采用偏斜校正方法监测偏斜分布过程分散
机译:使用卷积神经网络监控SPI机器的过程控制图
机译:增强的累积总和图用于监视过程分散
机译:在设计什锦控制图方法来监控过程分散中的应用:硬烘焙过程的应用