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Schnelle Linienfreigabe dank mikroskopischer Leiterplattenaufnahmen

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摘要

Während der Elektronikfertigung wird die gefertigte Qualität mit unterschiedlichen Testverfahren immer wieder verifiziert. Um Fehlbestückungen möglichst frühzeitig zu erkennen, hat sich die Erstmusterprüfung etabliert. Nach der Rüstung der Linie und vor der Fertigung der vollständigen Serie wird die erste bestückte Platine auf Fehler untersucht. Jedes falsche Bauteil, das an dieser Stelle nicht entdeckt wird, zieht im weiteren Fertigungsverlauf hohe Kosten zur Korrektur nach sich. Umso wichtiger ist eine effektive Unterstützung dieses Prozessschrittes. Im Zuge der seit Jahren konsequent verfolgten Null-Fehler-Strategie hat sich der Elek-tronikdienst-leister Katek am Standort Grassau bereits 2012 für den Einsatz des Inspektionssystems EFA-Inspection von Lebert Software Engineering entschieden. Nun wurde dieses System umfassend erneuert. Das EFA-System wird bereits seit über 10 Jahren von Lebert entwickelt und stetig um praxisorientierte Funktionen und Verbesserungen erweitert. So lassen sich immer wieder Prozesse erleichtern, die das Know-how des Menschen mit der Automatik des Computers verbinden und damit Zeiteinsparungen bringen.
机译:在电子产品生产过程中,始终又一次地验证具有不同测试方法的制造质量。为了尽早检测失火,最初的样品检查已建立。在线装甲后和制造完整系列之前,将检查第一个填充板是否有错误。此时未发现的任何不正确的组件都吸引了进一步制造过程中的校正的高成本。更重要的是有效支持此过程步骤。在零误差策略的过程中持续多年来,Gursau网站的Elek Tronikdienstleister Katek已经在2012年决定使用EFA检测检验系统由Le Leber软件工程使用。现在这个系统已被广泛续订。 EFA系统已由肝脏开发超过10年,稳步延伸,以实现实际功能和改进。因此,可以再次又一次地缓解进程,即将人类与计算机的自动连接,从而节省时间。

著录项

  • 来源
    《Productronic》 |2021年第4期|54-55|共2页
  • 作者

    Anne Lebert;

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 ger
  • 中图分类
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