【24h】

Corrosion Analysis

机译:腐蚀分析

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
       

摘要

SEVERAL BOARD ASSEMBLIES had failed in the field and exhibited areas of corrosion in close proximity to assembled components. The most common source of corrosion on electronic assemblies is residual flux. Fluxes are specific chemistries applied during soldering that improve wetting of the solder to the pad and component when forming the solder joint. They can be highly reactive chemicals that, if left on the assemblies, can lead to corrosion, electrical degradation and decreased reliability. In the presence of moisture and electrical bias, flux residue can enable dendritic growth as a result of electrochemical migration (ECM).
机译:几个板子组件在该领域中都失败了,并且在靠近已组装部件的地方出现了腐蚀区域。电子组件上最常见的腐蚀源是残留助焊剂。助焊剂是在焊接过程中使用的特定化学物质,可在形成焊点时改善焊料对焊盘和组件的润湿性。它们可能是高反应性化学物质,如果留在组件上,会导致腐蚀,电降解和可靠性下降。在存在水分和电偏压的情况下,助焊剂残留物可通过电化学迁移(ECM)促进枝晶生长。

著录项

  • 来源
    《Printed Circuit Design》 |2017年第4期|74-75|共2页
  • 作者

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号