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机译:2.5 MeV电子原位照射4.2 K对ZnO中产生的固有缺陷进行电子顺磁共振的光学检测
A. F. Ioffe Physico-Technical Institute, Russian Academy of Sciences, 194021, St. Petersburg, Russia;
point defects (vacancies, interstitials, color centers, etc.) and defect clusters; semiconductors; optically detected magnetic resonance (ODMR); Ⅱ-Ⅵ semiconductors;
机译:在4.2 K下通过2.5 MeV电子辐照在ZnO中产生的缺陷:通过电子顺磁共振的光学检测研究
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