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Determination of the Ehrlich-Schwoebel barrier in epitaxial growth of thin films

机译:薄膜外延生长中的埃里希-舒沃贝尔势垒的确定

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摘要

We demonstrate an approach for determining the "effective" Ehrlich-Schwoebel (ES) step-edge barrier, an important kinetic constant to control the interlayer mass transport in epitaxial growth of thin films. The approach exploits the rate difference between the growth and/or decay of an adatom and a vacancy two-dimensional island, which allows the "effective" ES barrier to be determined uniquely by fitting with a single parameter. Application to growth of Pb islands produces an effective ES barrier of ~83±10 meV on Pb(111) surface at room temperature.
机译:我们演示了一种确定“有效” Ehrlich-Schwoebel(ES)台阶边缘屏障的方法,该方法是控制薄膜外延生长中层间质量传输的重要动力学常数。该方法利用了吸附原子和空位二维岛的生长和/或衰减之间的速率差,从而允许通过拟合单个参数来唯一确定“有效” ES屏障。在室温下,将其应用于Pb岛的生长会在Pb(111)表面上产生约83±10 meV的有效ES势垒。

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