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First Direct Detection Limits on Sub-GeV Dark Matter from XENON10

机译:XENON10对Sub-GeV暗物质的首次直接检测限

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摘要

The first direct detection limits on dark matter in the MeV to GeV mass range are presented, using XENON10 data. Such light dark matter can scatter with electrons, causing ionization of atoms in a detector target material and leading to single- or few-electron events. We use 15 kg day of data acquired in 2006 to set limits on the dark-matter-electron scattering cross section. The strongest bound is obtained at 100 MeV where σ_e < 3 × 10~(37) cm~2 at 90% C.L., while dark-matter masses between 20 MeV and 1 GeV are bounded by σ_e < 10~(-37)"37 cm~2 at 90% C.L. This analysis provides a first proof of principle that direct detection experiments can be sensitive to dark-matter candidates with masses well below the GeV scale.
机译:使用XENON10数据,给出了MeV到GeV质量范围内暗物质的第一个直接检测极限。这种浅色暗物质会与电子一起散射,从而导致检测器目标材料中原子的离子化,并导致单电子或少电子事件。我们使用2006年获得的15千克/天的数据设置暗物质-电子散射截面的限制。最强的束缚在100 MeV处获得,其中在90%CL时σ_e<3×10〜(37)cm〜2,而在20 MeV和1 GeV之间的暗物质质量以σ_e<10〜(-37)“ 37为界90%CL时cm〜2此分析提供了原理的第一个证明,即直接检测实验对质量远低于GeV尺度的暗物质候选者敏感。

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