...
机译:使用紧凑的无死时间模拟存储器ASIC的TRACE检测器读数的概念设计
Instituto de Fisica Corpuscular, C/ Catedratico Jose Beltran 2, 46980 Paterna, Spain,Instituto de Instrumentacion para Imogen Molecular, Camino de Vera s, 46022 Valencia, Spain;
Instituto de Instrumentacion para Imogen Molecular, Camino de Vera s, 46022 Valencia, Spain;
Istituto Nazionale di Fisica Nucleare - Sez. Di Milano, Via Celoria 16, 20133 Milano, Italy,Department of Physics, University of Milano, Via Celoria 16, 20133 Milano, Italy;
Istituto Nazionale di Fisica Nucleare - Sez. Di Milano, Via Celoria 16, 20133 Milano, Italy,Department of Physics, University of Milano, Via Celoria 16, 20133 Milano, Italy;
Departamento de Ingenieria Electrica, Escuela Tecnica Superior de Ingenieria, Universidad de Huelva, 21819 Huelva, Spain;
Istituto Nazionale di Fisica Nucleare - Sez. Di Padova, Via Marzolo 8, 35131 Padova, Italy,Dipartimento di Fisica e Astronomia, Universita di Padova, Via Marzolo 8, 35131 Padova, Italy;
Istituto Nazionale di Fisica Nucleare - Laboratori Nazionali di Legnaro, 35020 Legnaro, Italy;
Instituto de Fisica Corpuscular, C/ Catedratico Jose Beltran 2, 46980 Paterna, Spain;
Instituto de Instrumentacion para Imogen Molecular, Camino de Vera s, 46022 Valencia, Spain;
Departamento de Ingenieria Electronica, Universidad de Valencia, Avda, de la Universidad s, 46100 Burjassot, Spain;
Instituto de Fisica Corpuscular, C/ Catedratico Jose Beltran 2, 46980 Paterna, Spain;
Departamento de Ingenieria Electronica, Universidad de Valencia, Avda, de la Universidad s, 46100 Burjassot, Spain;
Instituto de Fisica Corpuscular, C/ Catedratico Jose Beltran 2, 46980 Paterna, Spain;
Istituto Nazionale di Fisica Nucleare - Sez. Di Padova, Via Marzolo 8, 35131 Padova, Italy,Dipartimento di Fisica e Astronomia, Universita di Padova, Via Marzolo 8, 35131 Padova, Italy;
Analog memory; Dead time; Detector readout; Front-end electronics; Switched Capacitor Array (SCA); Triggerless data acquisition;
机译:科学CCD探测器驾驶员和读出备用探测器的设计和测试
机译:用于CdZnTe检测器的16通道低噪声前端读出ASIC的线性增强设计
机译:用于CdZnTe检测器的低噪声和辐射硬化读出ASIC的设计和性能
机译:PLAS:用于TRACE的紧凑型,自触发,无死时间,高通道数模拟存储器ASIC
机译:用于交互深度(DOI)正电子发射断层扫描(PET)检测器模块的模拟ASIC。
机译:用于医学成像应用的像素化CdTe检测器的2D 4×4通道读出ASIC
机译:使用紧凑的无死时间模拟存储器ASIC的TRACE检测器读数的概念设计