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Comparing Microstrip and CPW Performance

机译:比较微带和CPW性能

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摘要

The performance levels of mi-crostrip, CBCPW launched mi-crostrip and CBCPW transmission lines were evaluated under controlled conditions. Both measurements and computer simulations were performed using a commercial, low-loss microwave substrate material with different copper types, including different values of copper conductor surface roughness. The effects of copper surface roughness were evaluated and compared, showing that greater roughness typically means greater loss.
机译:在受控条件下评估了微带,CBCPW发射的微带和CBCPW传输线的性能水平。使用具有不同铜类型(包括不同铜导体表面粗糙度值)的商业低损耗微波基板材料进行测量和计算机模拟。评估并比较了铜表面粗糙度的影响,结果表明,粗糙度越大通常意味着损耗越大。

著录项

  • 来源
    《Microwave Journal》 |2012年第7期|p.74767880828486|共7页
  • 作者

    John Coonrod; Brian Rautio;

  • 作者单位

    Rogers Corp., Chandler, AZ;

    Sonnet Software Inc., North Syracuse, NY;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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