ВЛИЯНИЕ ПАРАМЕТРОВ ИЗМЕРИТЕЛЬНОГО СИГНАЛА НА ПОГРЕШНОСТЬ ИЗМЕРЕНИЙ ЕМКОСТИ р-п-ПЕРЕХОДА И ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЕГО РАДИАЦИОННОЙ СТОЙКОСТИ

摘要

Дана оценка влиянию параметров измерительного сигнала на погрешность измерений емкости полупроводниковых диодов: вид функции распределения результатов измерений, её повторяемость и статистические параметры (среднее значение и среднеквадратичное отклонение). Предложены меры по уменьшению погрешности измерений — определены параметры измерительного сигнала, для которых среднеквадратичное отклонение внутри выборки результатов измерений будет минимальным. Показано, что результаты измерений могут иметь закон статистического распределения, отличный от гауссова. Продемонстрировано влияние погрешности измерений на восстановление распределения носителей заряда. Предложен критерий определения уровня радиационной стойкости, основанный на изменении концентрации носителей заряда под действием потока быстрых нейтронов.