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【24h】

Kopf-an-Kopf-Rennen von Extrem-UV und Lichtoptik

机译:极度紫外线和光学的正面对决

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摘要

In der Halbleiterindustrie zwingt der ungebrochene Trend zu immer kleineren und kompakteren Strukturen die Maskenhersteller in eine Innovationsoffensive. Ein ?K?nigsweg" ist derzeit aber noch nicht erkennbar. So wird einerseits das baldige Ende der Lichtoptik prophezeit, auf der anderen Seite ist der Einstieg in die Lithographie mit extrem kurzwelligem UV-Licht (EUV) nach wie vor mit gro?en technologischen Herausforderungen verbunden. Den ?Anh?ngern " der Lichtoptik ist es in den letzten Jahren mit physikalischen Tricks wiederum gelungen, deren Grenzen in Bereiche auszudehnen, die man früher nicht für m?glich gehalten h?tte.
机译:在半导体行业中,不断缩小的结构和更紧凑的结构的不间断趋势正迫使掩模制造商进行创新。然而,目前尚无法确定“王者之道”,一方面,可以预见光学光学的早期发展;另一方面,极短波紫外光(EUV)进入光刻技术仍具有很大的技术进步。面临的挑战近年来,光学的“支持者”再次成功地利用物理技巧将其边界扩大到以前认为不可能的领域。

著录项

  • 来源
    《Mechatronik 》 |2012年第5期| 16-17| 共2页
  • 作者

    Rolf Frob?se;

  • 作者单位
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  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 ger
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